Repositorio Documental de la Universidad de Salamanca >

Estadísticas de uso

Estadísticas del Item "Caracterización de superficies de semiconductores crecidos por epitaxia de haces molecularres (MBE), usando la técnica de difracción de electrones de alta energía con incidencia rasante (RHEED)"

1. Todos los años [Estadísticas]

	Visitas	Descargas
	126	516

2. País

País	Visitas	Descargas
Spain	26	478
United States	52	19
unknown	30	9
United Kingdom	4	6
Germany	2	2
Argentina	0	1
Mexico	0	1
Ukraine	3	0
Netherlands	2	0
Colombia	2	0
Cuba	1	0
Canada	1	0
France	1	0
Sweden	1	0
China	1	0

3. Año/Mes

Fecha	Visitas	Descargas
2013-05	2	11
2013-04	5	12
2013-03	1	2
2013-02	2	0
2013-01	1	2
2012-12	2	0
2012-11	10	11
2012-10	3	19
2012-09	6	23
2012-08	2	21
2012-07	9	16
2012-06	2	17
2012-05	4	22
2012-04	5	22
2012-03	3	13
2012-02	3	29
2012-01	8	33
2011-12	3	29
2011-11	3	29
2011-10	3	25
2011-09	7	25
2011-08	6	21
2011-07	7	30
2011-06	6	28
2011-05	10	30
2011-04	7	26
2011-03	6	20