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2004Caracterización de superficies de semiconductores crecidos por epitaxia de haces molecularres (MBE), usando la técnica de difracción de electrones de alta energía con incidencia rasante (RHEED)Fernández Buitrago, Nataliainfo:eu-repo/semantics/bachelorThesis; info:eu-repo/semantics/bachelorThesis2009-04-30; 2009-10-15T09:39:52Z; 2009-10-15T09:39:52Z; 2004